Romex, introduceert de nieuwe 6TL-24 combinatie tester.
Een combinatie tester is in staat om zowel In-Circuit (ICT), Boundary-Scan (B-Scan) en Functionele testen (FCT) in één testsysteem samen te brengen en te combineren door gebruik te maken van zogenaamde ” Dual Stage” testfixture technologie.
Voor het testen van elektronica moet vaak de keuze worden gemaakt welke testen er belangrijk zijn om uw ontwerp goed te kunnen testen en met de juiste testdekking. Afhankelijk van de markt waarin uw ontwerp gebruikt gaat worden kan dit zijn een ICT (In-Circuit) test, een ICT in combinatie met BScan (Boundary Scan) test, of een FCT (functionele test).
Naast deze keuze is ook het zogenaamde DFT (design for test) van groot belang. Als u ICT wilt testen en de printplaat is niet toegankelijk voor de tester dan zal de zogenaamde testdekking heel laag zijn, Het is in dat geval beter te kiezen voor uitsluitend een functionele test.
Steeds vaker zal men echter niet willen of kunnen kiezen voor één type test maar een combinatie van ICT, BScan en FCT, een zogenaamde combinatie test, willen. Hierbij worden alle testtechnieken gecombineerd in één tester. Dit vereist een speciale fixture techniek omdat de test probes welke verbinding maken met de printplaat tijdens de ICT test geen verbinding mogen maken tijdens de functionele FCT test omdat dan deze testen negatief worden beïnvloed. De oplossing hiervoor is een zogenaamde dual stage test fixture oplossing. In combinatie met testprobes met verschillende veerlengtes kunnen zo twee niveaus van contractering worden gecreëerd. In een korte video hieronder wordt getoond hoe dit werkt in de nieuwe 6TL-24 van 6TL.
De 6TL-24 is dus bij uitstek geschikt als combinatie tester en heeft zo alle voordelen van iedere testtechniek in huis.
Meer informatie aanvragen kan eenvoudig door ons te contacteren, of direct door onderstaand reactieformulier in te vullen. Een brochure van de 6TL-24 kunt u hier downloaden.
